|
74 помощью ручки ручной развертки доводили до значения, соответствующего тому или иному пику производной, используя в качестве индикатора самописец, и измеряли напряженность магнитного поля. Для повышения точности можно несколько раз, поочередно, произвести настройку и измерение полей, соответствующих пикам производной, и усреднить соответствующие значения. Описанная процедура позволяет одновременно определить резонансное поле. Ясно, что точность измерения и этого параметра будет определяться точностью измерения полей пиков производной, т.е. будет прямо связана с шириной линии. По значениям разности резонансных полей пиков произволиой АНрр = [нр2 НрХ), а также разности ее экстремальных значений I' (рис. 2.4.2.) определяли резонансное поле Н’ , ширину 2АН и интенсивность I линии ФМР. Как уже было отмечено выше, метод ФМР является эффективным методом исследования многослойных пленок, позволяющий дифференцированно получать информацию о слоях. Однако в работах, посвященных изучению таких пленок, не учитывается взаимное влияние пиков поглощения на параметры последних, по которым рассчитываются значения магнитных характеристик. В тоже время данное влияние может приводить к существенным погрешностям в результатах измерений, а в ряде случаев, к ошибочной интерпретации экспериментальных данных. Так наблюдаемое в [74] изменение ширины линии спин-волновых мод от их номера при малых п может быть объяснено выше отмеченным эффектом. (2.4.2) /=-дя г. 3 рр |
факторов: коэффициента заполнения образцом объема резонатора //= УоЬ/Угех, амплитуды высокочастотного поля /г, коэффициента усиления схемы регистрации сигнала К, положения образца в резонаторе. В общем случае амплитуду сигнала ФМР можно записать в виде [95]: 1 = Х"ГеЛЬ2Кус. (2.8) При записи производной линии поглощения ее амплитуда зависит также от величины модулирующего поля. В настоящей работе для калибровки интенсивности использовался специальный эталонный образец. При этом резонансные поля эталонной и исследуемой пленок различались между собой, что исключало наложение линий поглощения. Как показывают результаты экспериментов, относительной точности в измерении ширины линии (< 5%) можно добиться путем измерения магнитных полей, соответствующих некоторым выделенным точкам спектра. При записи производной линии поглощения в качестве таких точек удобнее всего использовать локальные экстремумы (пики производной). Магнитное поле с помощью ручки ручной развертки доводили до значения, соответствующего тому или иному пику производной, используя в качестве индикатора самописец, и измеряли напряженность магнитного поля. Для повышения точности можно несколько раз, поочередно, произвести настройку и измерение полей, соответствующих пикам производной, и усреднить соответствующие значения. Описанная процедура позволяет одновременно определить резонансное поле. Ясно, что точность измерения и этого параметра будет определяться точностью измерения полей пиков производной, т.е. будет прямо связана с шириной линии. По значениям разности резонансных нолей пиков произволной дИрр={нр2-нр1), а также разности ее экстремальных значений Г (рис. 2.8) определяли резонансное поле Нру ширину 2АН и интенсивность 1 линии ФМР. (А. 74 2Д// = л/5(л„2-//„), 7 = зАНррГ' (2.9) Как уже было отмечено выше, метод ФМР является эффективным методом исследования многослойных пленок, позволяющий дифференцированно получать информацию о слоях. Однако в работах, посвященных изучению таких пленок, не учитывается взаимное влияние пиков поглощения на параметры последних, по которым рассчитываются значения магнитных характеристик. В тоже время данное влияние может приводить к существенным погрешностям в результатах измерений, а в ряде случаев, к ошибочной интерпретации экспериментальных данных. Так наблюдаемое в [96] изменение ширины линии спин-волновых мод от их номера при малых П может быть объяснено выше отмеченным эффектом. В [97] был проведен анализ взаимного влияния пиков поглощения на их положение, интенсивность и ширину, измеряемых по вышеназванным характерным точкам сложного спектра и амплитудам наблюдаемых пиков. Численный расчет проводился на примере спектра, являющегося суперпозицией двух лоренцевых линий. На рис. 2.9. приведены зависимости интенсивности (амплитуды производной (/') ) и значений АН рр наблюдаемых пиков от расстояния (7 между центрами истинных линий с соотношением интенсивностей 1:0,2 и 1:0,4, и одинаковой шириной. Величина (У измерялась в единицах интервала между пиками производной АН рр. Как следует из полученных результатов, когда сг > 4АН рр интенсивность и ширина наблюдаемых пиков лишь незначительно отклоняются от истинных значении этих |