|
39 Для изделия (услуги) может существовать конечное множество требований и измеренных значений, относящихся как к самому изделию, так к процессам и среде, связанных с производством данного изделия. Так как само изделие связано с процессами производства и средой, то одни требования могут иметь ссылки на другие требования. Например, требования к продукции по точности измерения могут ссылаться на требования к средствам измерения, технологическим операциям и соответствующему технологическому оборудованию и инструментам. ДС-пмя требуемое тмачемие i~ топ хяр «к терис тгаш фактическое тяячешя» i-той хлроктерхктмжи, получошдее в / гем шмерешш Структура данных СМК приведена на рис. 4. Оценка качества продукция Оцгшы качтва процессов а w=«=хатффнтц^мт варнлшш Q = Я Af оценка качества, где J I £*»ряые векторы I требуемых и умеренных хар актгрштак j jl I I 1 I I X Помещения, оборудование, КИА, инструмент. персонал Процесс входной выходной ПОТОК математическое олщдшшт Л той хзрактертк тика при / том измерении поток7 V" Рис. 4. Структура данных СМК База данных (БД) СИО имеет следующее содержание: • состав изделия с глубиной описания до детали, характеристики которой должны контролироваться; • названия и пары значений (требуемые и фактические) характеристик изделия и его составных частей; • перечень процессов производства изделий; |
Q -> min Показателем качества может служить модуль вектора коэффициентов вариации измеренных характеристик: v v где v вектор, компоненты которого определяются по формулам: v а. i г а . I , дляi =1, .../ J 2 V-p4 I \М1 ~М, 7 = 1 J 1 стандартное отклонение величины, Mj т j Вектор v и величины его компонентов характеризуют стабильность производства, т.е. для стабильного производства должна наблюдаться тенденция v -> min Таким образом, СИП должна содержать требования -R и измеренные значения М для конкретных объектов и результаты анализа их соответствия Q. Для изделия (услуги) может существовать конечное множество требовании и измеренных значении, относящихся как к самому изделию, так к процессам и среде, связанных с производством данного изделия. Так как само изделие связано с процессами производства и средой, то одни требования могут иметь ссылки на другие требования. Например, требования к продукции по точности измерения могут ссылаться на требования к средствам измерения, технологическим операциям и соответствующему технологическому оборудованию и инструментам. Структура данных КСМК приведена на рис. 4-1. 100 Структура данных КСМ ZVj —ИМЯ гтребуемое значение i-тои характеристики fiфактическое ш ячеяне i-той характеристики, полученное к /-том тм ерес ср. квадратичное отклонение Q = [I& М I! оценка качества, где R = (rp * b ...r } и . ^ е # -р М = (f,ip — /-**»рные векторы требуемых и намеренных хар актерж тнк 1 J . а(=т ид/ J ./=1 входной поток гнатематическае ожидание i-той характеристики т р и /т о м измерении I ! I ± I I К Процесс Оценка качества процессов а *Г== кот ффицнент вариации выходной поток Рис.4-1. Структура данных СМК 4.2.3. Из вышесказанного следует состав данных, которые должна содержать база данных (БД) СИП: • Состав изделия с глубиной описания до детали, характеристики которой должны контролироваться; • Названия и пары значений (требуемые и фактические) характеристик изделия и его составных частей; • Перечень процессов производства изделий; • Названия и пары значений (требуемые и фактические) характеристик процессов; • Перечень влияющих друг на друга характеристик взаимосвязанных процессов. В зависимости от сложности изделий и процессов их производства возможно несколько способов построения СИП. Для иллюстрации вышеприведенного рассмотрим процесс проведения входного контроля металлов партий прутков на механическом заводе. В качестве параметров контроля (характеристик) выберем: 101 |