|
Методом рентгенографического анализа уширений рентгеновских интерференционных линий (102) и (204), зарегистрированных на рентгеновском дифрактометре «ДРОН-ЗМ», производилась оценка эффектов второго рода. Путем выбора аппроксимирующих функций профилей и зарегистрированных интерференционных линий получены следующие формулы, позволяющие оценить размер кристаллических блоков мозаики (D) и величину мнкроискажений кристаллической решетки (е): D2 = Я2(sin2 -sin2 0„м) A sin cos 0/,^ р2 sin 0А4(/ cos (4.1) -tfcos2gtVi 16(sin26>W;-sin20Wi) где X длина волны используемого рентгеновского излучения (XCuKai=l,53 А); 0^ , 0^^ углы Вульфа-Брегга для отражений (102) и (204) соответственно; pi, р2 истинные физические уширения зарегистрированных интерференционных линий двух порядков. В таблице 4.12 приведены результаты рентгенографических оценок размеров кристаллических блоков и микроискажений кристаллической решетки, которые формируются на поверхностном слое титановых образцов с электроакустическими покрытиями до и после выглаживания минералокерамикой ВОК-60. Таблица 4.12 Результаты рентгенографических оценок искажений Вид обработки Электроакустическое покрытие Выглаживание Сила выглаживания (Рн) в (Н) 300 350 400 450 500 D, 10° см 0,54-0,56 0,48-0,47 0,45-0,46 0,43-0,42 0,37-0,38 0,35-032 E , I 0 J 0,7-0,75 0,8-0,95 1,5-1,6 2,1-2,2 2,4-2,5 2,0-2,! 159 |
изучение истинного физического уширения рентгеновских интерференционных линий двух порядков с разделением эффектов второго рода. Для оценки размеров блоков и величин микроискажений выбраны аппроксимирующие функции профиля и интерференционные линии, позволяющие проводит!» количественные расчеты. Электроакустическое напыление покрытий осуществлялось на установке «ЭЛАН-3» при оптимизированном режиме, обеспечивающем максимальную 127 эрозию электрода с удовлетворительной шероховатостью поверхности. Методом рентгенографического анализа уширений рентгеновских интерференционных линий (102) и (204), зарегистрированных на рентгеновском дифрактометре «ДРОН-3», производилась оценка эффектов второго рода. Путем выбора аппроксимирующих функций профилей и зарегистрированных интерференционных линий получены следующие < • формулы, позволяющие оценить размер кристаллических блоков мозаики'.(D) и величину микроискажений кристаллической решетки (г): D2 = гт2 = Х{ртг вки -sin 10ш) A sin2 0W cos2 6hl/ pi sin2 0W cos2 0hk, ’ A2 cos2 dbt/ Pi cos2 ew 16(sin2 в.к1 sin2 9hll) (3.1) (3.2) где Xдлина волны используемого рентгеновского излучения (A.CuKai=l,53 А); вш, углы Вульфа-Брегга для отражений (102) и (204) соответственно; Pi, рг истинные физические уширения зарегистрированных интерференционных линий двух порядков. В таблице 3.4 приведены результаты рентгенографических оценок размеров кристаллических блоков и микроискажений кристаллической решетки, которые формируются на поверхностном слое титановых образцов с электроакустическими покрытиями до и после выглаживания минералокерамикой ВОК-60. |