|
83 Потери при поглощении: ДлБ = 8,686aZ = 8,686^7i/’pcy (3.6) где а постоянная ослабления, t толщина металла. Выражение относительно t (в сантиметрах ) и f (в мегагерцах): ^=1314,3t^f,iri^ror (3.7) где р,. и а,. соответственно, магнитная проводимость материала экрана относительно меди. Поправка на переотражение: проницаемость и удельная B^ = 201g 1-^4 (* + 1)2, ,-т< (3.8) В мало 2,3 дБ. Эту величину можно приравнять к нулю. Тогда расчетные формулы имеют вид: Электрические поля (ближняя зона): S,lb = 1314,3z7/„n,n,ar+141,7-101g Магнитные поля (ближняя зона): =1314,зф№(цгаг +74,6-101-1 И Плоские поля (дальняя зона): = 1314,3/7/„r„g,ar +108,1 lOlgf И-г-Л/пЛ 1 зоо ^МГц 300 МГц 300 МГц (3-9) (ЗЛО) (3.11) Приведенные соотношения соотносятся с идеальным однородным экраном. Полученные по ним результаты дают весьма завышенную оценку эффективности экранирования, которая может отличаться на несколько порядков от эффективности экранирования реального неоднородного экрана. Поэтому существует необходимость учета влияния апертур на эффективность экранирования и в оценке эффективности неоднородного экрана. , Гм > 2<( 2лЛ Аналитический расчет эффективности экранирования неоднородного экрана Потери на поглощение и отражение зоны одиночной апертуры В реальной ситуации получение значений эффективности экранирования для отдельных апертур и неоднородностей в экране достаточно сложная задача. Наибольшее распространение получил коэффициентный метод расчета [60], при котором влияние апертур и неоднородностей учитывается с помощью некоторых поправочных коэффициентов. Для металлического листа с апертурами можно записать эффективность экранирования в следующем виде Sap=Aap +Яар+Вор +карх + Кар2 + Кар}, дБ, (3.12) где: Аарпотери на поглощение, Rap потери на отражение, Вар поправочный коэффициент отражения, Кар} поправочный коэффициент числа отверстий, Кар2 поправочный коэффициент проникновения поля на низких частотах, Кар3 поправочный коэффициент объединения близко расположенных отверстий. |
81 Эффективность экранирования при наличии в экране щелей Необходимость выполнения отверстий для кнопок, кабелей, управления, охлаждения приводит к тому, что их надо учитывать при подсчете эффективности экранирования [68]. S=A+R+B+Kl+K2+Ki ' (42) где: А абсорбционное ослабление щели; R ослабление щели при отражении; В поправочный коэффициент отражения; К\ поправочный коэффициент числа отверстий; К 2 поправочный коэффициент проникновения поля на низких частотах; КЗ поправочный коэффициент объединения близко расположенных отверстий. Абсорбционное ослабление щели Эта величина вычисляется по теории волноводов при частоте ниже частоты отсечки волновода. Для круглых отверстий. Д75-1О10 f fcP, fcp ~' (Ah 1,75-Ю4 (МГц) (45) 4=27,3— r W (46) Для прямоугольных отверстий , ,.,,40 f^fcr, fc 1’5-1°1и(г,) = Ц^(МГ1/) (47) где: t толщина экрана, см; D диаметр круглого отверстия, см; W большая ширина прямоугольного отверстия, см. Ослабление щели при отражении D W |