|
Вид матрицы первичных измерений приведен в таблице 2.1.3 Матрица первичных измерений позволяет определить показатель уровня подготовленности каждого обучаемого по результатам теста, включающего «ш» равнозначных вопросов. Показатель уровня подготовленности определяется суммой набранных баллов, то есть количеством единиц в строке. 151 Таблица 2.1.3 N обучаемого (1) N вопроса (]) 1 2 • а а ш 1 * • п Для сравнения однородности по критерию X2. Обобщенные результаты показателя уровня обученности рассчитываются на основе данных матриц первичных измерений экспериментальной и контрольной групп и представляются форме таблицу 2.1.4. В таблице 2.1.4. приняты обозначения: 14^ (1=1, 2; 3=1, 2) число обучаемых, получивших на предварительной проверке балл] из 1-ой группы, М1 (,количество обучаемых в экспериментальной группе; количество обучаемых в контрольной группе. Расчет критерия X2 определяется выражением: 1 5 (14^ ^ г + N1*N2^ Х2= ______________ £ ___________________________ N,.N2, ]=0 N„ + N2, г |
197 Wij = 1,если 1-ый обучаемый правильно ответил на 3-ый вопрос; О, если 1-ый обучаемый не ответил или неправильно ответил на 3~ый вопрос. Вид матрицы первичных измерений приведен в таблице 1. Матрица первичных измерений позволяет определить показатель уровня подготовленности каждого обучаемого по результатам теста, включающего "пГ равнозначных вопросов. Показатель уровня подготовленности определяется суммой набранных баллов, то есть количеством единиц в строке. Таблица 1. N обучаемого (i) N вопроса (J) m п Для сравнения однородности по критерию X2. Обобщенные результаты показателя уровня обученности рассчитываются на основе данных матриц первичных измерений экспериментальной и контрольной групп и представляются форме таблицы 2. В таблице 2 приняты обозначения: N u (1=1,2;3=1.2) число обучаемых, получивших на предварительной проверке балл 3 из 1-ой группы, N lzколичество обучаемых в экспериментальной группе; N2z количество обучаемых в контрольной группе. Расчет критерия X 2 определяется выражением: |