Проверяемый текст
Хоруженко, Олег Владимирович; Методический аппарат функционально-кодовой защиты ЭВМ телекоммуникационных компьютерных сетей (Диссертация 2009)
[стр. 21]

23 Обмен информацией между вычислителем и периферийными устройствами осуществляется по цифровому интерфейсу с помощью устройства обмена [13,14].
Для ТККС в состав вычислителя входит пульт оператора, предназначенный для ввода информации оператором, вывода информации и признаков состояния системы на панель индикации.
Допущения, принятые при исследовании функциональной модели дискретных устройств:
сигналы, поступающие на вход дискретного устройства идеальны; дискретное устройство состоит из блоков одинаковой сложности (т.е.
блоки содержат равное количество логических элементов), и их вероятности безотказной работы равны; блоки построены из однотипных логических элементов (элементы, выполняющие вспомогательные функции, такие, как формирователи и т.п.
при рассмотрении не учитываются).
Под отказом будем понимать событие, заключающееся в нарушении работоспособного состояния соответствующего дискретного устройства
[41].
Несоответствие выходной информации функционального узла вычислителя относительно рассматриваемых входных воздействий (вызванное отказом) будем считать ошибкой
[42].
Ограничимся рассмотрением ошибок дискретных устройств, которые проявляются в виде постоянных значений логических сигналов на его выходах типа const®
и constl.
Если ошибка проявляется на одном выходе устройства, то ее будем называть одиночной ошибкой, на двух и более выходах устройства кратной ошибкой.
Допустим, что рассматриваемые ошибки носят групповой (алгебраический) характер, могут быть одиночными, кратными и являются симметричными.
Предположим, что возникающие неисправности являются правильны
[стр. 21]

21 Рисунок 1.1 Упрощенная структурная схема вычислителя Устройство управления микропрограммного типа, конструктивно выполнено в виде постоянного запоминающего устройства.
Запоминающее устройство состоит из постоянного (ПЗУ) и оперативного (ОЗУ) полупроводниковых запоминающих устройств.
Обмен информацией между вычислителем и периферийными устройствами осуществляется по цифровому интерфейсу с помощью устройства обмена.

Для наземных КСОН в состав вычислителя входит пульт оператора, предназначенный для ввода информации оператором, вывода информации и признаков состояния системы на панель индикации.
Допущения, принятые при исследовании функциональной модели дискретных устройств:


[стр.,22]

22 сигналы, поступающие на вход дискретного устройства идеальны; дискретное устройство состоит из блоков одинаковой сложности (т.е.
блоки содержат равное количество логических элементов), и их вероятности безотказной работы равны; блоки построены из однотипных логических элементов (элементы, выполняющие вспомогательные функции, такие, как формирователи и т.п.
при рассмотрении не учитываются).
Под отказом будем понимать событие, заключающееся в нарушении работоспособного состояния соответствующего дискретного устройства
[63].
Несоответствие выходной информации функционального узла вычислителя относительно рассматриваемых входных воздействий (вызванное отказом) будем считать ошибкой
[117].
Ограничимся рассмотрением ошибок дискретных устройств, которые проявляются в виде постоянных значений логических сигналов на его выходах типа const
0 и const 1.
Если ошибка проявляется на одном выходе устройства, то ее будем называть одиночной ошибкой, на двух и более выходах устройства кратной ошибкой.
Допустим, что рассматриваемые ошибки носят групповой (алгебраический) характер, могут быть одиночными, кратными и являются симметричными.
Предположим, что возникающие неисправности являются правильными,
т.е.
дискретное устройство, имеющее некоторую неисправность, описывается моделью, принятой для описания исправного устройства.
Функциональные узлы современных ЭВМ строятся на интегральных микросхемах.
Интеграция элементов способствовала повышению их надёжности, однако, проблема обеспечения надежности и, следовательно, обеспечения отказоустойчивости рассматриваемой аппаратуры, по-прежнему является актуальной.
К возникновению ошибок в полупроводниковых интегральных микросхемах приводят различные физико-химические факторы [49].

[Back]