68 Z2 число групп синдромов для ошибок только в контрольных разрядах; /3 число групп синдромов для ошибок, возникающих одновременно в информационных и контрольных разрядах. Тогда аппаратурные затраты дешифратора составят: Сдгл/= 16(А + ^2 + ) г-разрядных элементов И, или для двухвходовых элементов: Сдеш = +^2 +^з)(^Д _1) +^2 +/з)(^3). (2.15) Выходы дешифратора соответствующие синдромам, входящих в щ, объединим с помощью элемента ИЛИ на п2 входов, тогда аппаратурные затраты данного элемента, выраженные через двухвходовые логические элементы, составят: С-ИЛИ! = (^2 • (2.16) Подмножество групп l2+h объединим с помощью (12+13)/2входовых элементов ИЛИ, для подачи управляющих сигналов, корректирующих соответствующий информационный разряд. В этом случае аппаратурные затраты данной группы элементов ИЛИ составят: (2-17) Аппаратурные затраты, обеспечивающие формирование сигнала «Отказ», для группы синдромов, принадлежащих подмножеству п\, включают, гвходовый элемент ИЛИ, (Ж)-входовый элемент ИЛИ, элемент НЕ и двухвходовый элемент И. При реализации на двухвходовых элементах данные аппаратурные затраты составят: СОТКАЗ к + 3 + к + 2 = 2к + 5. (2.18) Аппаратурные затраты элемента И, разрешающего прохождение управляющих сигналов на корректор составят: (2.19) |
59 Число логических элементов И, разрешающих поступление значений сигналов контрольных разрядов при вычислении синдрома ошибок составят: Сисиндр — к + 4. (2.24) Аппаратурные затраты дешифратора, определим учитывая что множество ошибок заданной кратности (в данном случае от одиночной до кратноЛ-1 сти к-1) определяется выражением N = ^С‘п и при этом данное множество /=1 разбивается на четыре подмножества N = п1+п2+п3+п4, где щ ошибки, синдромы которых имеют одинаковые дополнительные проверки (некорректируемые ошибки, признак отказа устройства); «2 подмножество ошибок только в информационных разрядах (каждая группа включает 2к одинаковых значений синдромов); «з подмножество ошибок только в контрольных разрядах (каждая группа включает 2к одинаковых значений синдромов); п4 подмножество ошибок одновременно в информационных и контрольных разрядах. Каждое л,подмножество ошибок включает /,• групп, а каждая группа включает 2* одинаковых значений синдромов. В этом случае группа: Zi число групп синдромов для ошибок только в информационных разрядах; /2 число групп синдромов для ошибок только в контрольных разрядах; /3 число групп синдромов для ошибок, возникающих одновременно в информационных и контрольных разрядах. Тогда аппаратурные затраты дешифратора составят: СдКШ = 1б(/1 + + /3) r-разрядных элементов И, или для двухвходовых элементов: СДЕШ = 1 б(/, +12 +I, )(ДД -1) = 16(/, + /2 +13 )(к+3). (2.25) 60 Выходы дешифратора соответствующие синдромам, входящих в п3, объединим с помощью элемента ИЛИ на я2 входов, тогда аппаратурные затраты данного элемента, выраженные через двухвходовые логические элементы, составят: СШ1И2 = (^2 -• (2.26) Подмножество групп /2+/з объединим с помощью (Z2+Z3)/2входовых элементов ИЛИ, для подачи управляющих сигналов, корректирующих соответствующий информационный разряд. В этом случае аппаратурные затраты данной группы элементов ИЛИ составят: Сдлиз = ВД+/3)/2-1]. (2.27) Аппаратурные затраты, обеспечивающие формирование сигнала «Отказ», для группы синдромов, принадлежащих подмножеству щ, включают: гвходовый элемент ИЛИ, (А+1)-входовый элемент ИЛИ, элемент НЕ и двухвходовый элемент И. При реализации на двухвходовых элементах данные аппаратурные затраты составят: Сотказ = ^*l'2 + ^ + 2 = 2/с + 5. (2.28) Аппаратурные затраты элемента И, разрешающего прохождение управляющих сигналов на корректор составят: СИ2=к. (2.29) Аппаратурные затраты корректора составят: СКОР = 4л. Таким образом, для реализации предлагаемого метода коррекции аппаратурные затраты составят: С общ = Счет + С ку + Ссин + СРЕГ + С И[+ С ИЛИ{ + С ИСИНдР + + СдЕШ + ^ИЛИ2 + ^ИЛИЗ + С ОТКАЗ + ^112 + КОР или Со^=6*М*(Л + 4) + ^*[(/1+/3)/2-1]+16*(Л + 3>(/1+/2-ь/3)+/2+24^ + 14 (2.30) |