|
80 готовлении микросборок с шестнадцатью информационными разрядами аппаратные затраты увеличатся в четыре раза. 2.4. Рекомендации для технической реализации предлагаемых методик кодирования Причиной постоянных неисправностей в ИС ЗУ являются отказы ИС, а случайных флуктуации копряжения, кратковременных помех, воздействия ot-частиц. Влияние а-частиц стало проявляться в связи с тем, что с ростом интеграции динамических ЗУ емкость элемента ЗУ уменьшается, что сопровождается снижением критического заряда, способного изменить состояния конденсатора ячейки ЗУ. Неисправности ИС ЗУ обычно проявляются как неисправности одного бита, линии выборки разряда, линии выборки слова, обеих линий, всей ИС. Для повышения надежности ЗУ используются корректирующие коды (КК). Наиболее распространен класс кодов с коррекцией одиночной и обнаружением двойной ошибки (КО—ОД). Самым известным среди них является код Хэмминга. В последние годы были разработаны и другие коды, являющиеся модификацией кода Хэмминга. Примером таких кодов являются ды с нечетными весами столбцов проверочной матрицы [87]. Число ошибок, возникающее в результате неисправности ИС ОЗУ, зависит от типа неисправности. Например, неисправность одной ячейки вызывает одиночную ошибку, а всей ИС ОЗУ — кратную. Обычно биты и адреса ОЗУ распределяют по ИС и ТЭЗ таким образом, чтобы ошибки можно было исправлять с помощью выбранного КК. При использовании кода КО—ОД наилучшим является размещение «один бит в одной ИС». В этом случае даже отказ всей ИС не нарушает работу ЗУ. Благодаря такому размещению код КО—ОД повышает время наработки на отказ накопительной части ЗУ до значения, сравнимого с аналогичным показателем остальных компонентов ЗУ (дешифраторов, усилителей). |
72 стало проявляться в связи с тем, что с ростом интеграции динамических ЗУ емкость элемента ЗУ уменьшается, что сопровождается снижением критического заряда, способного изменить состояния конденсатора ячейки ЗУ. Неисправности ИС ЗУ обычно проявляются как неисправности одного бита, линии выборки разряда, линии выборки слова, обеих линий, всей ИС. Для повышения надежности ЗУ используются корректирующие коды (КК). Наиболее распространен класс кодов с коррекцией одиночной и обнаружением двойной ошибки (КО—ОД). Самым известным среди них является код Хэмминга. В последние годы были разработаны и другие коды, являющиеся модификацией кода Хэмминга. Примером таких кодов являются коды с нечетными весами столбцов проверочной матрицы[53]. Число ошибок, возникающее в результате неисправности ИС ОЗУ, зависит от типа неисправности. Например, неисправность одной ячейки вызывает одиночную ошибку, а всей ИС ОЗУ — кратную. Обычно биты и адреса ОЗУ распределяют по ИС и ТЭЗ таким образом, чтобы ошибки можно было исправлять с помощью выбранного КК. При использовании кода КО—ОД наилучшим является размещение «один бит в одной ИС», как показано на рис. 4.5. В этом случае даже отказ всей ИС не нарушает работу ЗУ. Благодаря такому размещению код КО—ОД повышает время наработки на отказ накопительной части ЗУ до значения, сравнимого с аналогичным показателем остальных компонентов ЗУ (дешифраторов, усилителей). Как правило, ИС ЗУ образует часть кодового слова, как показано. При таком размещении неисправность логики обрамления накопительной части ЗУ может привести к групповой ошибке в соседних битах (кратность ошибки равна числу разрядов кодового слова, размещенного в одной ТЭЗ) [53]. Коды КО—ОД не в состоянии обнаружить подобные ошибки. Для этой цели применяются коды КО—ОД с дополнительной способностью обнаружения кратной ошибки в одной группе битов (КО—ОД—ООГ). |